该设备的使用使SQMS研究人员能够研究超导量子比特中百万分之几的杂质

在超导量子位中，我们一直想知道哪些潜在的材料特性会影响量子计算机的性能，Rigetti Computing量子材料主管Josh Mutus 表示，现在，SQMS的研究人员已经能够使用高精度分析设备检测Rigetti设备，以发现我们以前从未探索过的潜在缺陷系统。

在包含超导量子位的材料中发现的杂质可归因于导致量子退相干，费米实验室领导的超导量子材料和系统中心的科学家在《应用物理快报》杂志上发表的一篇论文中强调了这一点。;IonQ构建了世界上最强大的量子计算机，使用钡量子位构建系统的能力将帮助我们使我们的客户更接近实现量子的商业利益。

通过TOF—SIMS分析提供的超导量子位样品中碳氢化合物杂质分布的3D表示。;IonQ总裁兼首席执行官PeterChapman表示，;我们相信，由钡量子位构建的先进架构将比我们迄今为止能够构建的系统更强大，更具可扩展性，为更广泛的量子计算应用打开大门。

通过在原子水平上对量子比特进行三维分析，科学家们发现了包括氧，氢，碳，氯，氟，钠，镁和钙等元素在内的杂质，。;。

为了发现这些杂质，科学家们使用一种称为TOF—SIMS或飞行时间二次离子质谱仪的设备，在一个量子位上快速发射离子，并对其进行切割从量子位表面脱落的离子在仪器的传感器中进行分析，其中的组成元素可以以百万分之几的精度被识别出来

TOF—SIMS仪器最初是为费米实验室的超导射频研究计划购买的，用于识别加速器腔中用于推动粒子加速器中的粒子的杂质现在，TOF—SIMS设备首次被用于分析量子位构成加速器腔的材料中的杂质也会影响性能，这使得该仪器适用于SQMS的科学家，他们也可以识别材料中的杂质，这些杂质会损害或帮助其他超导技术

执行这种表征所需的工具不仅专业且昂贵，而且还需要经验丰富的科学家来获取和分析数据NIST量子比特制造专家Anthony McFadden 表示，在SQMS内部的合作利用了费米实验室和全国各地机构的专业设备和专业知识

TOF—SIMS从顶层识别原子，通过量子位向下蚀刻，生成构成量子位的元素和化合物的3D轮廓，并识别存在的杂质的类型和位置。

McFadden表示，这项工作揭示了一些经常被忽视的退相干源，这些退相干源通常在设备处理过程中形成。

量子位可以通过在硅上沉积一层超导铌来制造科学家们将铌蒸发成气体，就像冬天水蒸气在冷金属上形成冰一样，铌凝固后在硅顶部形成一层薄膜

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